电池
测试仪
数字
电桥
电容
测试仪
电感
测试仪
阻抗
分析仪
18251249115
ZX8210系列高频精密阻抗分析仪：使用自动平衡电桥技术及
四端对开尔文测试端、测量频率范围涵盖20Hz~30MHz，***小分辨
率1mHz，基本测量精度可达0.05%。
ZX8210同时具有阻抗分析仪的绘图功能和LCR表测量功能，
其高精度、宽频率范围可以满足元件与材料大部分低压参数的测
量要求，可广泛应用于诸如电感器、电容器、电阻器、传声器、
谐振器、液晶显示器、变容二极管、变压器等进行阻抗性能的研
究分析及生产线QC检验。
自动平衡技术电桥，4端对开尔文测试端
可选配内部±40V偏置电压源
简体中文、英文操作语言
分档测量、列表扫描、绘图扫描、开路、短路、负载校正等等功能
绘图扫描无继电器跳动噪声及等待延时
配备电导率o·介电常数E的运算功能
进行测试数据、测试条件保存（U盘或内部）
绘图扫描图像直接拷屏到U盘功能
加强的测试端保护功能
USB、GPIB、RS232、LAN等上位机连接接口
自动平衡电桥技术
以往低端简化的运放阻抗测量电路如下图：
以上电路在实际运作时，随着频率的升高，虚地点会越来越不理想，导致流过被测件DUT的电流信号不能全部进入IV转换标准电阻Rr，所以会造成测量误差越来越大。
而ZX8210使用的自动平衡电桥测试原理，把上图简易的测量运放改进成：Lot检零电路，0度90度数字检相及调制解调电路，
Lcur高频驱动电路等等组成的矢量负反馈网络。从而保证了测量电路的虚地端更接近理想。下面2图是简易运放阻抗测量电路以及自动平衡电桥阻抗测量电路Lcur（虚地点）的波形实测对比：
使用简易运放阻抗测量电路1MHz测量6.8nFLcur（虚地点）实测波形如下：
使用简易运放阻抗测量电路1MHz测量6.8nFLcur
（虚地点）实测波形
使用自动平衡电桥阻抗测量电路1MHz测量6.8nFLcur
（虚地点）实测波形
以上可见，使用简易运放阻抗测量电路虚地端电压峰峰值高达59mV，而使用自动平衡电桥原理的虚地端电压峰峰值仅为2mV，所以：使用自动平衡电桥的虚地性能远远好于使用一个简易运放做测量的电路。
主要测量页面
加强的测试端保护功能
一般高频的阻抗分析仪为了保证其测试端电平的幅度一致性，其测试端非常容易被静电或被测件残留电荷冲坏，而这些进口仪器是非常昂贵的。
为了防止将被充电电容错误的连接到测量端口，ZX8210优化和强化从电容的放电电压中保护内部电路的残留电荷保护功能。
配备多种接
基本测量精度
与国际业界标准测试效果对比
ZX8210测量变压器自谐振频率SRF：1.19750MHz
ZX8210测量变压器自谐振频率SRF：1.19750MHz
以“工匠精神，让测试更精准”为理念，让“致新精密”成为
测试测量领域用户的优选品牌
我们以“工匠精神，让测试更精准”为理念，坚持产品的精益求精 ，持续为客户创造价值，不断努力，让“致新精密”成为测试测量领域用户的优选品牌。
ZX8210-5M：20Hz-5MHz阻抗分析仪+LCR表
ZX8210-10M：20Hz-10MHz阻抗分析仪+LCR表
ZX8210-15M：20Hz-15MHz阻抗分析仪+LCR表
ZX8210-20M：20Hz-20MHz阻抗分析仪+LCR表
ZX8210-25M：20Hz-25MHz阻抗分析仪+LCR表
ZX8210-30M：20Hz-30MHz阻抗分析仪+LCR表
ZX8210H-1M: LCR Meter, 20Hz~1MHz,40V bias voltage sources
ZX8210H-2M: LCR Meter, 20Hz~2MHz,40V bias voltage sources
